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RF系半導体検査 |
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新潟精密ではRF系半導体を主とした検査装置を導入し、
FM/AMラジオ周波数帯（LW/MW/FM）の半導体検査選別を行っています。
検査・選別の受諾及び、ご希望によりWaferテストからテーピングまでのターンキーサービスも可能です。
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検査項目 |
RF系半導体検査は下記の項目において検査実績があり、お客様の要求に対応可能です。
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FM/AMラジオ受信用半導体 |
FMトランスミッター用半導体 |
| 1. |
受信感度 |
1. |
送信出力 |
| 2. |
オーディオ出力レベル |
2. |
送信周波数 |
| 3. |
オーディオ周波数特性 |
3. |
変調度 |
| 4. |
歪率 |
4. |
消費電流 |
| 5. |
S/N比 |
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6. |
ステレオセパレーション |
| 7. |
消費電流 |
ターンキーサービス
検査・選別のみの受託のほかにWaferテストからテーピングまで
ターンキーサービスの受諾も可能です。
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保有検査設備 |
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1. |
PCベース ICTester |
NI PXIテストシステム
(National Instruments) |
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Handler |
GHL-1E (GHT) |
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検査設備構成 |
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NI PXIテストシステム
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モジュール |
仕様 |
備考 |
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1. |
PXI-8106 |
2.16GHz CORE2 DUO 組込コントローラ |
OS WindowsXP |
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2. |
PXI-6508 |
96ラインI/O |
リレー制御、ハンドラインターフェース用 |
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3. |
PXI-4070 |
6 1/2桁 デジタルマルチメータ |
電圧および電流測定 |
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4. |
PXI-2530 |
高密度マルチ構成マトリクススイッチ |
電源回路切替 |
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5. |
PXI-4462 |
4ch アナログ入力24Bit 204.8ks/秒 信号収録 |
オーディオ測定 |
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6. |
PXI-6551 |
50MHz デジタル波形発生器/アナライザ |
デジタル波形生成 |
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7. |
PXI-6602 |
32Bit カウンター/タイマ |
周波数測定 |
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